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供应EXFO光谱分析仪/ 光谱仪

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最后更新: 2013-05-22
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产 品 说 明
  光谱分析仪主要用于对密集型波分复用(DWDM)系统中的光器件如合波器、分波器、光放等器件的光参数进行测量和分析,能够显示各波图形并具有自动校准功能。主要测量和分析的光参数有:波长参数:中心波长、平均波长、-20dB带宽、截止带宽等参数。功率参数:峰值功率、总功率、信噪比,边模拟制比、增益平坦度等参数。 1. 波长指标(1) 波长范围        1250~1650nm(2) 绝对精度        无外部校准光源条件下    ≤±0.03nm         用户校准模式下      ≤±0.015nm(3) 波长线性度(在C和L段全范围)≤±0.01nm  (4) 分辨率带宽(FWHM带宽)              最小分辨率带宽小于0.033nm(5) 调整重复性      ±0.003nm  2.  光功率指标(1)  线性度  ≤±0.1dB (2)  平坦度(1530~1570nm)   ≤±0.1dB(3)  偏振相关性(1550nm)      ≤±0.15dB (4)  灵敏度(1550nm)    ≤-75dBm (5)  光抑制比(ORR)0.1nm                ≥35 dB0.2nm                ≥48 dB0.4nm                ≥50dB(6)  最大输入功率:              +20dBm3.  信噪比测试精度 (连续波)        ≤±0.6dB    测试范围(0.1nm带宽)       ≥35 dB4.光谱仪主要测试功能:光谱仪应具有如下测试模式:1) WDM测试模式:能够显示如下指标:中心频率、20dB 带宽,通道信号功率、总功率、信号功率平坦度、信噪比2) EDFA测试模式:能够显示如下指标:噪声指数、信号增益、增益平坦度、输入信号平坦度、输出信号平坦度3) 激光器测试模式:能够显示诸如DFB激光器相关指标:包括峰值功率、中心波长、边模抑制比,xx dB带宽等;以及FP激光器相关指标4)谱损测试模式:能够测试诸如DWDM合波器、分波器等无源器件指标:滤波器峰值波长、插损、插损平坦度、滤波器3dB和20dB带宽5)漂移测试模式:用于测试WDM系统长时间中心频率、通道功率、信噪比的变化6)曲线比较模式:该模式可以将不同时间测试的曲线结果进行比较,可用于测试WDM系统维护中系统老化的分析。内容包括中心频率变化、通道功率变化。应答:满足7) 超级波分测试功能:仪表应能够具有对预啁啾DWDM信号测试功能。5.扫描时间:     扫描周期(全范围数据分析)   ≤1.5s
 
 
本信息网址: http://www.cgets.net/sell/show-5231.html
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