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电子元器件失效分析与检测

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发货期限: 自买家付款之日起 3 天内发货
所在地: 江苏
有效期至: 长期有效
最后更新: 2013-11-22
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产品详细说明

失效分析在产品的可靠性质量保证和提高中发挥着重要作用,在产品的研发、生产、使用中都需要引入失效分析工作。CTI失效分析实验室作为CTI一站式服务的重要组成部分,拥有一支经验丰富、技术精湛的服务团队,各种先进的检测、分析仪器,同时依托于CTI强大的多学科技术网络,可以为客户提供高效、准确、公正的检测、分析服务。

电子元器件检测的意义:

元器件厂:获得改进产品设计和工艺的依据
整机厂:获得索赔、改变元器件供货商、改进电路设计、改进电路板制造工艺、提高测试技术、设计保护电路的依据
整机用户:获得改进操作环境和操作规程的依据,提高产品成品率和可靠性,树立企业形象,提高产品竞争力
失效分析技术的延伸应用
进货分析的作用:选择优质的供货渠道,防止假冒伪劣元器件进入整机生产线
良品分析的作用:学习先进技术的捷径

 电子元器件的工艺适用性评价:

  • 回流敏感度测试依据标准J-STD 020包括温湿度处理以及回流焊
  • 可焊性测试
  • 金属层耐溶解性试验
  • 耐焊接热试验

电子元器件的常规检测:

  • 开封
  • 取晶粒
  • 芯片层次去除
  • 去金凸块
  • 染色
  • 高解析度显微拍照
  • BGA(PCB)&IC电路提图服务
  • 扫描电镜检查
  • 高/低阶制成定点横截面切割
  • EMMILC 液晶热点侦测
  • OBIRCH 应用
  • 静电放电(ESD)测试
  • 探针应用
  • LCR应用
  • I-V曲线量测
  • 激光切割
  • 引线键合强度
  • 芯片粘结强度
  • 背面研磨
  • TEM
  • EELS
  • AFM
  • C-AFM
  • SIMS
  • TOF-SIM
  • AES
  • XPS
  • XRD
  • STEM
  • FIB-线路修补
  • X射线透视检查
  • 超声波扫描检查(C-SAM)
 
 
本信息网址: http://www.cgets.net/sell/show-1460.html
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