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TSI公司将于2013年美国质谱大会(ASMS)期间举办研讨会

放大字体  缩小字体 世科网   发布日期:2013-06-11  浏览次数:613
核心提示:TSI,一家精密测量化学分析仪器制造商,在2013年6月9日举行的明尼苏达州明尼阿波利斯市第61届美国质谱大会正式开始之前,将邀请众

TSI,一家精密测量化学分析仪器制造商,在2013年6月9日举行的明尼苏达州明尼阿波利斯市第61届美国质谱大会正式开始之前,将邀请众多的著名学者,探讨传统质谱分析技术在近年所取得的进步。

一个跨学科小组的学术带头人将为大家呈现他们的工作,主题是LiquiScan-ES技术,它是将电喷雾技术与扫描移动粒径(SMPS)技术结合而成,之前称为MarcroIMS。这种技术主要用来表征溶液中的大分子、纳米粒子和蛋白质。他们也会介绍这项技术的概况以及目前采用该技术所做的研究状况。讨论主要集中在如何改善该仪器的可用性以及分辨率,从而扩大设备的适用范围。发言人包括美国明尼苏达大学的Chris Hogan博士, 维也纳大学的Wladysla W. Szymanski博士 , 维也纳科技大学的Günter Allmaier 博士, 迈克·撒迦利亚从马里兰NIST 大学的Mike Zachariah博士, 泽维尔大学的Robert Blake博士,维也纳科技大学的Peter Kallinger博士。

“本次新技术研讨会欢迎各方人士前来参加,这也为对质谱研究人员提供了一次与相同领域的研究者交流的机会,以期得到更多的发现”,TSI公司全球市场部经理Ed Pickens说。

想了解更多关于本次会议的信息,或是注册,请访问www.tsi.com/ASMS.

 
  来源:仪器信息网
文章出自: 世科网
本文网址: http://www.cgets.net/news/show-1727.html

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