测试LTE装置可以改善小封包边缘经验，尤其使用者有更多期待和更多需求，电信业者更该提供较WCDMA/CDMA更稳定的网络；且需要更多的测试，像衰退和白噪音，另外，LTE有40个不同的频段，需作更多测试。
    LTE高频(物理层)测试需作Call box测试、Script架构测试、3GPP 36.521一致性测试、VSA/VSG、衰退和白噪音模拟、多重无线技术交递测试(是否干扰)、讯号产生器支持高达12GHz(阻隔测试)。
     高频和协议测试可以合并来做，好处为高频效能符合客户设备运作所需要的质量，不管在衰退(fading)的情况，或是数据转移或交递等。同时也能在实际操作下看到高频效能，可避免产品灾难的发生(像天线门事件)。 
    一般兼容性功能测试(IOT)程序为，以原型装置作IOT，以测其功能、协议和效能。在有讯号(call-box)和无讯号(VSA/VSG)模式分别作高频量测，以量测高频参数像是CCDF, EVM vs副载波、频谱等，而且不管原型协议是否能够正常运作。接着是注册程序，辨识并除虫由于安全性、组态、韧体稳定度引起的错误等。还有认证及安全程序、WCDMA/eHRPD交递测试、传输测试。