日期:2014-10-09 10:16
SIKORA消息，公司研发出一套新型系统，采用X射线及光学技术相结合的方式，可对聚合物材料进行100%的检测，检测到的杂质将被自动剔除。该检测原理适用于TPE及其它不同材料，在一般流动速率下，可检测小到50m的杂质或异物，使金属、有机污染物和异物的检测和分离得以实现。此外，该系统还可检测添加剂的分布，尤其是对于复合材料生产过程，由此避免了后续的添加剂结块及混合不均匀的产生。
据悉，通过采用X射线检测技术，可对透明及不透明的塑料颗粒进行杂质检测。其基本原理是X射线对原材料与杂质（或异物），有不同的衰减率。X射线的