Qualcomm Atheros采用LabVIEW来设计NI矢量信号收发器的FPGA,以便控制待测设备并处理数据。 仪器内部即可执行处理程序，无需通过总线来回传输至控制器，因此有助于大幅提升测试速度。 图2. Qualcomm Atheros采用LabVIEW来设计NI矢量信号收发仪的FPGA,藉由数字方式来控制待测设备。
TE3lK(f 传统的堆叠式仪器测量通常会受限于最佳的评估增益表选项。 因此Qualcomm Atheros的团队必须通过反复评估才能找出最终的解决方案，每次评估都得还原增益表特性。这是相当缓慢的流程，每次评估都会产生大约40个重要数据点。 ?zh9d%R 改用NI PXI矢量信号收发仪之后，测试速度变快了，所以我们可执行完整的增益表扫频，而不是去反覆评估。 这样一来，Qualcomm Atheros的团队即可在单一设备的每次测试扫频中，全面测试无线电运作的特性，进而采集全部共300,000个数据点，以便确切判断出最理想的运作设置。 鉴于这样的数据操作流程，我们能以前所未有的方式掌握设备的运作状况，负责团队即可探索以前从未设想过的运作机制。 9IjIIM2y 图3.就传统仪器而言，每次测试大约会取得40个重要的WLAN收发器数据点。NI PXI矢量信号收发仪（VST）的测试速度非常快，因此能执行完整的增益表扫频，进而采集共300,000个数据点。 |2O]R s 我们通过仪器的射频前端元件直接同步处理数字控制时序，测试速度比以前的PXI解决方案快了20倍以上，甚至超越原本的传统仪器解决方案200倍之多。 VCV"S>aVf 图4. Qualcomm Atheros通过仪器的射频前端元件直接同步处理数字控制时序，测试速度比以前的PXI解决方案快了20倍以上，甚至超越原本的传统仪器解决方案200倍之多。 ZGexdc% 提供更佳的灵活性、自由度和测试性能 my(2;IJ#{ 对Qualcomm Atheros来说，仪器的灵活性与精密控制非常重要，因为这可以有效提升射频测试流程的效率，所以我们使用NI全新的矢量信号收发仪时，优异的测试性能让人非常满意。 我们为客户开发802.11ac解决方案的过程中，NI PXIe-5644R为我们带来了自由度和灵活性，并大大提高了我们的测试吞吐量。
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