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[可靠性]高加速寿命测试( HALT)简析 [复制链接]

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离线soyotech
 
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只看楼主 倒序阅读 使用道具 楼主  发表于: 2012-11-07
— 本帖被 admin 设置为精华(2012-11-09) —
定义: h.edb6  
HALT 是“高加速寿命测试”(Highly Accelerated Life Testing)的英文缩写, `?z('FV  
其是一种利用阶梯应力加诸于试品,并在早期发现产品缺陷、操作设计边际及结构强度极限的方法。试品通过HALT 所暴露的缺陷,涉及线路设计、工艺、元部件和结构等方面。 1}d F,e  
b j&!$')  
测试意义: 3"h*L8No  
是在产品设计和试产阶段,通过试验,快速发现产品的潜在缺陷,并加以改进和验证,从而增加产品的极限值,提高其坚固性及可靠性。施加于试品的应力,包括振动、高低温、温度循环、电力开关循环、电压边际及频率边际测试等。现已成为电子业界的标准产品验证方法。它将原需花费6个月甚至1年的新产品可靠性试验缩短至一周,且在这一周中所发现的产品问题几乎与客户应用后所发现的问题一致,故HALT 的试验方式已成为新产品上市前所必需通过的验证。 2Re8rcQQU  
GHsDZ(d3.  
试验目的: L^JU{\C  
1、通过系统地施加工作应力和逐步增大的环境应力,来激发故障,暴露产品设计中的薄弱环节,为开发人员改进产品设计方案提供依据,以对产品设计缺陷进行及时的修正。 4|?(LHBD)  
2、提高产品在使用过程中的壮实度,保证产品圆满的无故障的完成任务; w){B$X  
3、估计产品的工作极限和破坏极限,评估产品在实际使用条件下的可靠性,并为HASS的应力类 型和应力量级的选择提供依据。 %3`* )cp@  
vFUp$[  
测试样品要求: Y2L{oQ.C2  
样品需具有代表性,测试中样品的功能监控设备需要客户自备 ?/.])'&b  
                   xm {?h,U,  
aT,W XW*  
测试产品: ;>PHkJQ  
电源、 通讯发射/接受、空调控制器板、车载系统(DVD、音响、多媒体接收系统),继电器(电子元件)、电脑主板、电机(散风扇)等 /nO_ e  
                   jkk%zu  
WO>,=^zPJ  
名词解释: WOO3z5 La  
工作(操作)极限:在样品的失效点,样品的功能不可恢复(不能满足技术要求),但应力降低后,产品仍能恢复正常工作的那个应力强度值(软故障)。 !j$cBf4  
工作(操作)极限包括:工作(操作)极限上限值(Upper Operating Limit--- UOL) \|>% /P  
工作(操作)极限下限值(Lower Operating Limit---LOL) KpGx<+0p  
破坏极限:在样品的失效点,样品的功能不可恢复(不能满足技术要求),且应力降低后,产品也不能恢复正常工作的那个应力强度值(硬故障)。 hJSvx  
破坏极限包括:破坏极限上限值(Upper Destruct Limit---UDL) fq>{5ODO  
破坏极限下限值(Lower Destruct Limit---LDL) T={!/y+  
对于振动实验只有上限。 X!|eRA~o  
   &<><4MQ  
HALT 试验步骤: @x1cV_s[  
1低温步进应力试验 FRxR/3&  
2、高温步进应力试验 nReIi;pi  
3、快速热循环试验 >~ *wPoW  
4、振动步进应力试验 GJdL1ptc  
5、综合应力试验
6"_pCkn;c<  
低温步进程序
5@RcAQb:  
高温步进程序
4Q!%16 P  
f I%8@ :  
快速温度循环程序
w7` pbcY,  
振动步进应力
/,S VG1  
综合应力程序
p"P+8"`  
=oV C*b  
测试设备:
Typhoon 4.0
Typhoon 3.0
u"zR_CzYc  
^P{y^@XI  
温度范围
XZN@hXc9:v  
-100 ℃~+200℃
z4 =OR@ h  
振动加速度
P84YriLo  
0~50Grms
V0D&bN*  
温变率
kxJs4BY0  
40℃/min
];CIo> b_(  
onmpMU7w  
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