产品品牌：合泰Holtek

产品型号：OURSTEX 200TX

测量方法：全反射X射线荧光分析法

性能描述：适用于地表水、饮用水源、污水以及土壤等污

便携式全反射X射线荧光元素分析仪OURSTEX200TX特点：搭载SDD检测输出装置、本体重量8kg、可以分析ppb精度、不需要液氮和冷却水用途：检测井水、河水、污水；分析土壤、玩具的溶出水；食品、医药学、鉴定领域的现场分析；毛发、大气悬浮颗粒的成分分析。测定原理：全反射X射线荧光分析法，针对基座表面全反射临界角以下角度照射，不侵入试验基板之内，不会造成基板内部X射线散乱发射的情况，因此可以进行极微量级别的分析。规格

测定原理		全反射X射线荧光分析法
测定对象		液体、饮用水、土壤渗出水、污水等
测定元素		13AI~92U   ppb~100%量级  响应时间≤10分钟
发射源		X射线
样本基座		石英载片
装置重量		8kg
测试环境		大气
射线输出		0-48kV，0.2mA max / 48-50kV，0.175mA max
检测器		电子冷却式SDD
数据处理		数字处理方式DSP（DigITal Signal Processor）
使用条件	温度	5~27°C
	湿度	20~75%
	电源	AC 100, 5A或AC 220, 3A
	设置	设置D型接地线
其他附属		喷墨式彩色打印机，鼠标等。

   便携式（车载式）全反射X射线荧光元素（包括重金属）分析仪的技术指标1．用途    适用于地表水、饮用水源、污水以及土壤等污染事故区域及周边大气悬浮颗粒中的元素(包括重金属成分)的监测，实现轻松便携，全反射X射线荧光测试物质中未知元素的定性／定量分析及监测结果数据储存等功能。2．一般要求    电源要求：220VAC+10％，50／60Hz(附加变压器)或100AC，5A：    环境温度要求：5-27°C：    环境湿度要求：20-75％；3．系统配置    系统主要由全反射x射线荧光测试单元，元素种类和浓度的定性／定量分析软件以及操作单元等部分组成。·全反射X射线荧光分析仪主机1台   ·数据获取·全反射x射线荧光检测器   ·系统自动控制、数据获取及接口组件1套·笔记本电脑1台   ·元素定性／定量分析软件系统4．技术要求  系统技术指标  ·测量成分：元素13AI～92U   ·量程范围：ppb～100％量级  ·响应时间：≤10分钟   ·装置重量：8kg(分析单元本体6kg)  ·可用于便携以及车载测量   ·多组分测量：可同时测量以上各种元素(浓度高于检测限) 全反射X射线荧光分析仪  ·输出范围：0-48kV，0.2mA max／48—50kV．0.1 75mA max  ·试样平台：石英光学平板    ·计数回路：数字处理方式(DigitaI Signal Processor)  检测器  ·型  式：电子冷却式SDD    ·试样室周围气体：大气  软件及光谱数据库  ·软  件：光谱测量、未知元素的定性／定量分析、结果显示、数据储存  ·数据库：可同于定性及定量分析的各种元素(元素13AI~-92U)  系统操作控制系统  ·配置系统控制器(内置的CPU芯片)和操作软件(基于Windows操作系统)，图形化用户界面；  ·能够进行整个系统测试、定量分析及监测结果数据等的参数设定和控制功能；  ·提供计算机操作控制软件(光盘)。