- 产品品牌:zolix
- 产品型号:SGM100
- 产地:北京
SGM100 摄谱仪SGM100摄谱仪综合介绍
SGM100光栅摄谱仪采用交叉水平光路。由入射狭缝进入的复合光线经准直物镜反射后成为平行光束照射到平面衍射光栅上,经光栅色散后的光线由聚焦物镜聚焦于线阵CCD处,在线阵CCD处形成光谱面;内部设置了光线吸收阱,可有效抑制产生的杂散光。
SGM100光栅摄谱仪由一整块铝材精加工而成,有效防止温度形变或是震动所致的光谱漂移;SGM100针对电磁干扰(EMI)进行了优化,有效防止外界干扰影响测量精度的问题。
SGM100光栅摄谱仪可针对不同波段以及不同分辨率需求,更换平面衍射光栅和入射狭缝宽度,您在选购时一定注意根据应用选择合适的配置,光栅参数请参照光栅选择表。
SGM100光栅摄谱仪测量光束直进式设计,避免了由于采用分光镜以及光纤所造成的光损失,从而导致CCD积分时间加长,进而导致整体测量速度降低的缺陷。
SGM100光栅摄谱仪选用大容量存储芯片,存储校正系数等用于色度计算的各参数;使用高性能的主控芯片(CPU),承担内部计算强度及各色度参数功能,缩短了系统的测量时间,提高了工作效率。
SGM100光栅摄谱仪即可采用单一USB口供电,又可使用外部电源(电源适配器等)供电。同时为避免使用USB供电时电压输出不稳,或者偏低,不能满足CCD、运放及A/D等芯片的正常工作,电源部分使用升降压芯片,确保电源输入端输出稳定值,使系统供电稳定,信号输出水平稳定。
SGM100主要功能特点
◆ 采用交叉水平光路及光线吸收阱设计,有效抑制杂散光
◆ 一体式机身,有效防止温度引起的形变,或是震动所致的光谱漂移
◆ 内置可更换中性滤光片,扩大测量范围
◆ EMI优化设计,有效防止外界干扰
◆ 采用3648像素线阵CCD,具有高光谱分辨率
◆ 选用大容量存储及高性能的主控芯片,具有强大内处理能力
◆ 配不同附件适合多种测量应用
技术指标
|
应用范围 | 使用范围(nm) | 光谱范围(nm) | 光栅刻线(Lines/mm) | 闪耀波长(nm) | 订购型号 |
UV | 200-500 | 133 | 1800 | 250 | 6-180-H |
UV | 200-500 | 100 | 2400 | 250 | 6-240-H |
UV | 250-600 | 800 | 600 | 300 | 6-060-300 |
UV | 250-600 | 200 | 1200 | 300 | 6-120-300 |
VIS/NIR | 300-1100 | 800 | 300 | 500 | 6-030-500 |
VIS | 360-1000 | 400 | 600 | 500 | 6-060-500 |
VIS | 300-800 | 200 | 1200 | 500 | 6-120-500 |
VIS | 300-700 | 133 | 1800 | 500 | 6-180-500 |
NIR | 500-1100 | 800 | 300 | 750 | 6-030-750 |
NIR | 500-1100 | 400 | 600 | 750 | 6-060-750 |
NIR | 500-1100 | 200 | 1200 | 750 | 6-120-750 |
NIR | 600-1100 | 800 | 300 | 1000 | 6-030-1000 |
NIR | 600-1100 | 400 | 600 | 1000 | 6-060-1000 |
NIR | 600-1100 | 200 | 1200 | 1000 | 6-120-1000 |
※请注意:在可用的波长范围内不是所有3648像素都会被使用。
SGM100 摄谱仪分辨率表(FWHM) 单位:nm
狭缝宽度(μm) | ||||||
光栅可选(g/mm) | 10 | 25 | 50 | 100 | 200 | 500 |
300 | 0.144 | 0.252 | 0.504 | 1.008 | 2.016 | 5.040 |
600 | 0.072 | 0.126 | 0.252 | 0.504 | 1.008 | 2.520 |
1200 | 0.036 | 0.063 | 0.126 | 0.252 | 0.504 | 1.260 |
1800 | 0.024 | 0.042 | 0.084 | 0.168 | 0.336 | 0.840 |
2400 | 0.018 | 0.032 | 0.063 | 0.126 | 0.252 | 0.630 |
3600 | 0.012 | 0.021 | 0.042 | 0.084 | 0.168 | 0.420 |
SGM100 摄谱仪的应用 SGM100摄谱仪广泛应用于多个领域,如科研教学、颜色测量、环境监测、森林和农业的野外测量、食品的检测、LED光学特性测量等。 |
SGM100光栅摄谱仪采用交叉水平光路。由入射狭缝进入的复合光线经准直物镜反射后成为平行光束照射到平面衍射光栅上,经光栅色散后的光线由聚焦物镜聚焦于线阵CCD处,在线阵CCD处形成光谱面;内部设置了光线吸收阱,可有效抑制产生的杂散光。
SGM100光栅摄谱仪由一整块铝材精加工而成,有效防止温度形变或是震动所致的光谱漂移;SGM100针对电磁干扰(EMI)进行了优化,有效防止外界干扰影响测量精度的问题。
SGM100光栅摄谱仪可针对不同波段以及不同分辨率需求,更换平面衍射光栅和入射狭缝宽度,您在选购时一定注意根据应用选择合适的配置,光栅参数请参照光栅选择表。
SGM100光栅摄谱仪测量光束直进式设计,避免了由于采用分光镜以及光纤所造成的光损失,从而导致CCD积分时间加长,进而导致整体测量速度降低的缺陷。
SGM100光栅摄谱仪选用大容量存储芯片,存储校正系数等用于色度计算的各参数;使用高性能的主控芯片(CPU),承担内部计算强度及各色度参数功能,缩短了系统的测量时间,提高了工作效率。
SGM100光栅摄谱仪即可采用单一USB口供电,又可使用外部电源(电源适配器等)供电。同时为避免使用USB供电时电压输出不稳,或者偏低,不能满足CCD、运放及A/D等芯片的正常工作,电源部分使用升降压芯片,确保电源输入端输出稳定值,使系统供电稳定,信号输出水平稳定。
SGM100主要功能特点
◆ 采用交叉水平光路及光线吸收阱设计,有效抑制杂散光
◆ 一体式机身,有效防止温度引起的形变,或是震动所致的光谱漂移
◆ 内置可更换中性滤光片,扩大测量范围
◆ EMI优化设计,有效防止外界干扰
◆ 采用3648像素线阵CCD,具有高光谱分辨率
◆ 选用大容量存储及高性能的主控芯片,具有强大内处理能力
◆ 配不同附件适合多种测量应用
技术指标
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应用范围 | 使用范围(nm) | 光谱范围(nm) | 光栅刻线(Lines/mm) | 闪耀波长(nm) | 订购型号 |
UV | 200-500 | 133 | 1800 | 250 | 6-180-H |
UV | 200-500 | 100 | 2400 | 250 | 6-240-H |
UV | 250-600 | 800 | 600 | 300 | 6-060-300 |
UV | 250-600 | 200 | 1200 | 300 | 6-120-300 |
VIS/NIR | 300-1100 | 800 | 300 | 500 | 6-030-500 |
VIS | 360-1000 | 400 | 600 | 500 | 6-060-500 |
VIS | 300-800 | 200 | 1200 | 500 | 6-120-500 |
VIS | 300-700 | 133 | 1800 | 500 | 6-180-500 |
NIR | 500-1100 | 800 | 300 | 750 | 6-030-750 |
NIR | 500-1100 | 400 | 600 | 750 | 6-060-750 |
NIR | 500-1100 | 200 | 1200 | 750 | 6-120-750 |
NIR | 600-1100 | 800 | 300 | 1000 | 6-030-1000 |
NIR | 600-1100 | 400 | 600 | 1000 | 6-060-1000 |
NIR | 600-1100 | 200 | 1200 | 1000 | 6-120-1000 |
※请注意:在可用的波长范围内不是所有3648像素都会被使用。
SGM100 摄谱仪分辨率表(FWHM) 单位:nm
狭缝宽度(μm) | ||||||
光栅可选(g/mm) | 10 | 25 | 50 | 100 | 200 | 500 |
300 | 0.144 | 0.252 | 0.504 | 1.008 | 2.016 | 5.040 |
600 | 0.072 | 0.126 | 0.252 | 0.504 | 1.008 | 2.520 |
1200 | 0.036 | 0.063 | 0.126 | 0.252 | 0.504 | 1.260 |
1800 | 0.024 | 0.042 | 0.084 | 0.168 | 0.336 | 0.840 |
2400 | 0.018 | 0.032 | 0.063 | 0.126 | 0.252 | 0.630 |
3600 | 0.012 | 0.021 | 0.042 | 0.084 | 0.168 | 0.420 |
SGM100 摄谱仪的应用 SGM100摄谱仪广泛应用于多个领域,如科研教学、颜色测量、环境监测、森林和农业的野外测量、食品的检测、LED光学特性测量等。 |