产品品牌：中克

产品型号：振科

是否提供加工定制	否	光源	X光管
波长范围	0.001（nm）	焦距	0.01（mm）
外形尺寸	350*500*400MM（mm）	重量	30000（g）
适用范围	测量贵金属如金、银、铂、钯金、银等效果甚佳，也可以测金、银、钯等镀层厚度

用途：测量贵金属如金、银、铂等效果甚佳分析测量微量有害元素Cd、Pb、Cr、Hg、Br也可以测量镀层厚度特点：◆　无损测量，仪器对被测物无任何化学和物理破坏◆　测量准确，可以与化学方法相媲美◆　测量快速，分析几十种元素仅需几分钟◆　测量从硫到铀共75种元素◆　测量范围：2ppm~99.99％ (测量RoHS指令规定的Cd/Pb/Hg/Cr/Br等5种元素)◆　测量时间：60~300s◆　使用国际知名电制冷探测器，稳定可靠，能量分辨力小于160eV◆　X射线管的管压: 5~50kV，管流: 50~1000uA◆　内置高清晰度摄像头◆　内置美国产高压模块◆　光路增强系统◆　增强的信噪比设计◆　精确、快速的电路测试和计数系统◆　内含丰富软件，多种基体效应校技术指标：A.      分析精度：0.05%B.      分析范围：1PPM-99.9%C.      测量元素：Au、Ag、Cu、Zn、Ni、Pd、Pt、Rh、Cd、Ru从硫至铀等 75 种元素D.     测镀层厚度、精度：0.005μmE.      重量：30KGF.      尺寸：350*500*400MMG.     探测器：正比计数器H.      X射线源：X射线光管I.      测量时间：60~300秒J.      工作温度：15~30℃K.      进最小距离：0.01MML.      作电压：AC 110V/220V配置：A.      单样品腔B.      正比计数器C.      放大电路D.     高低压电源E.      X光管 F.      激光定位系统G.     50至100倍物体放大