电子产品实用可靠性设计与试验专题研讨会———北京

　　随着电子产品的体积与重量日益缩小，技术含量不断扩大、智能化程度成倍提高，对电子产品可靠性的要求已成为衡量其质量最重要的技术指标之一。可靠性不仅在国防、航天、航空等尖端技术领域倍受关注，在工业、民用电子等领域也同样得到重视。国际领先企业非常重视产品的可靠性，并将产品的可靠性贯穿于整个产品的研制、设计和使用全过程。与发达国家相比，目前我国电子产品的可靠性亟待提高。

　　为此，GRGT邀请国内知名机构技术专家为大家详细阐述产品可靠性强化试验理论、试验方法和设备环境对产品的影响，分析一些典型的试验实例,为实验室环境模拟试验者提供一些解决现实问题的思路和途径。帮助企业学员更好的了解环境可靠性试验的意义，从而规范地实施环境可靠性试验，提高环境可靠性试验的质量与水平！这将有助于企业从研发阶段发现产品的弱点从而提高产品的质量、缩短研发周期并提早产品的上市时间、降低产品的返修率并降低售后服务的成本。

　　欢迎您与您的供应商一起参与，专家现场为您解答您最关心的环境可靠性试验技术问题。

　　适合对象：

　　产品经理、研发经理、质量经理、采购经理、可靠性保障工程师、硬件开发工程师、质量保证人员等资深工程师。

　　演讲嘉宾：

　　明志茂：GRGT副总工程师，国防科技大学工学博士，国防科技大学宇航科学与技术科研流动站博士后，高级工程师，从事复杂机电产品可靠性设计与分析、试验与测试研究以及电子元器件可靠性与失效分析、微观材料成份分析。有10年型号产品失效分析与可靠性工作经历，熟知各类实验室分析设备与技术手段，在新装备研制、集成电路失效分析与可靠性领域有丰富的实践经验，处理过大量生产线或者研发阶段的型号产品质量与可靠性异常案例。先后承担国防技术基础、国家“863”、装备维修改革、装备预研基金等8项，获得部委级科技进步二等奖、三等奖各一项，获得软件著作权一项，09年度国防科技基金资助专著《动态分布参数的贝叶斯可靠性分析》一部。以第一作者发表论文20余篇，其中SCI检索3篇，EI检索7篇，ISTP检索2篇。

　　会议安排

　　日期2012年10月25日(星期四)

　　时间13:30-17:30

　　地点东城区建国门南大街五号 金龙建国温泉酒店牡丹厅

　　议程

　　13:00-13:30 签到

　　13:30-13:40 GRGT简介

　　13:40-14:45 电子产品可靠性试验的技能和方法

　　14:45-15:15 答疑交流

　　15:15-15:30 茶歇

　　15:30-16:30 产品可靠性设计技术

　　16:30-17:00 环境与可靠性试验案例与分析

　　17:00-17:30 答疑交流

　　Registration form 报名回执

　　公司名称：

　　公司地址：

　　联络人：电话：传真：E-mail：

　　参加人：职位：手机：E-mail：

　　参加人：职位：手机：E-mail：

　　请写下您感兴趣的问题，我们的专业讲师将在现场为您作详细解答

　　问题1：

　　问题2：

　　温馨提示：*请将以上报名表于2012年10月22日前回传到我司，以便为您预留座位。

　　*为方便签到，请携带您的名片入场。

　　*会务组联系方式：邹文保18922264183

　　广州广电计量检测股份有限公司 北京分公司

　　联系人：邹文保

　　手机：18922264183

　　交通指引：北京市东城区建国门南大街五号 金龙建国温泉酒店 牡丹厅

　　公交路线：122路，43路，39路

　　地铁路线：地铁一号线建国门站西南口