产品品牌:中克
产品型号:振科
是否提供加工定制 | 否 | 光源 | X光管 |
波长范围 | 0.001(nm) | 焦距 | 0.01(mm) |
外形尺寸 | 350*500*400MM(mm) | 重量 | 30000(g) |
适用范围 | 测量贵金属如金、银、铂、钯金、银等效果甚佳,也可以测金、银、钯等镀层厚度 | | |
用途:测量贵金属如金、银、铂等效果甚佳分析测量微量有害元素Cd、Pb、Cr、Hg、Br也可以测量镀层厚度特点:◆ 无损测量,仪器对被测物无任何化学和物理破坏◆ 测量准确,可以与化学方法相媲美◆ 测量快速,分析几十种元素仅需几分钟◆ 测量从硫到铀共75种元素◆ 测量范围:2ppm~99.99% (测量RoHS指令规定的Cd/Pb/Hg/Cr/Br等5种元素)◆ 测量时间:60~300s◆ 使用国际知名电制冷探测器,稳定可靠,能量分辨力小于160eV◆ X射线管的管压: 5~50kV,管流: 50~1000uA◆ 内置高清晰度摄像头◆ 内置美国产高压模块◆ 光路增强系统◆ 增强的信噪比设计◆ 精确、快速的电路测试和计数系统◆ 内含丰富软件,多种基体效应校技术指标:A. 分析精度:0.05%B. 分析范围:1PPM-99.9%C. 测量元素:Au、Ag、Cu、Zn、Ni、Pd、Pt、Rh、Cd、Ru从硫至铀等 75 种元素D. 测镀层厚度、精度:0.005μmE. 重量:30KGF. 尺寸:350*500*400MMG. 探测器:正比计数器H. X射线源:X射线光管I. 测量时间:60~300秒J. 工作温度:15~30℃K. 进最小距离:0.01MML. 作电压:AC 110V/220V配置:A. 单样品腔B. 正比计数器C. 放大电路D. 高低压电源E. X光管 F. 激光定位系统G. 50至100倍物体放大