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定义：
简单的描述：清洁度的定义指的是产品的洁净程度。
从宏观角度来描述：清洁度指的是产品表面残留微小颗粒物的程度。一般我们是通过颗粒物的尺寸、数量、重量来衡量样品被污染的程度。
从微观的角度来描述：清洁度指的是产品表面残留的阴阳离子的多少。一般我们是通过单位面积含量某种离子的质量或单位面积总离子的等效质量来表征。
测试目的：通过标准的方法来验证产品的清洁度是否符合相关行业的限值要求。
测试意义：对于精密零部件，产品表面残留的微小颗粒物超出规定的限值会直接影响产品在装配时的紧密度，并且使产品的磨损老化加速；对于电子组装线路板，表面残留的离子含量过多会导致产品在长期使用中的电器安全，可能会由于离子迁移产生电化学漏电现象，而导致产品损坏。
适用产品范围：精密零部件，电子线路板，组装电子线路板。
测试原理：颗粒物清洁度主要是先通过萃取表面颗粒物，然后再使用颗粒物统计软件记录数量及最大尺寸，使用分析天平记录残留物重量。离子残留清洁度主要是根据IC离子色谱法进行测试。
参考要求：IPC-TM650-2.3.28电路板离子分析，离子色谱法；ISO16232-10显微分析方法统计颗粒物尺寸及数量；IPC-TM-650 2.3.25 (C 版本2001-2)溶剂萃取的电阻率法样品要求。
测试结果示例（颗粒物清洁度）：
残留物重量:5.5mg
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颗粒范围 |
结果(等级/数量) |
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200μm ≤颗粒物直径＜400μm |
H/32 |
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400μm ≤颗粒物直径＜600μm |
I/7 |
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600μm ≤颗粒物直径＜1000μm |
J/2 |
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1mm≤颗粒物直径＜2mm |
K1/1 |
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颗粒物直径≥2mm |
K2/1 |
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颗粒总数＞200μm |
43 |
备注:金属表面积: 3386.558cm2
最大颗粒图片
结果（离子清洁度测试）：
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样品名称: PCBA |
surface area: 8.288in² |
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离子 |
单位 |
测试结果 |
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阳离子 |
F- |
μg/in² |
ND |
|
Cl- |
μg/in² |
3.68 |
|
|
NO2- |
μg/in² |
ND |
|
|
Br- |
μg/in² |
11.79 |
|
|
NO3- |
μg/in² |
ND |
|
|
PO43- |
μg/in² |
ND |
|
|
SO42- |
μg/in² |
0.20 |
|
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阴离子 |
Na+ |
μg/in² |
ND |
|
NH4+ |
μg/in² |
1.52 |
|
|
K+ |
μg/in² |
0.19 |
|
|
Mg2+ |
μg/in² |
0.32 |
|
|
Ca2+ |
μg/in² |
0.12 |
|
|
WOA |
CH3COO- |
μg/in² |
4.01 |
|
HC00- |
μg/in² |
0.51 |
|
|
WOA |
μg/in² |
4.52 |
|
备注: ND – 未发现（小于0.03μg/in²)