7用于台式和落地式设备的试验配置 v#|yr<
受试设备应放在参考接地平面上面0．1m高的绝缘支架上，将合适的耦合和去耦装置提供给全部有关电缆。装置与参考接地平面上受试设备几何投影的距离在0．1m～0．3m之间，见图9和图10．7.1～7．5给出了更详细的资料。 =odK i "-6
7．1选择注入法和试验点的规则 !o`riQLs>
对提供给耦合和去耦装置的电缆所选择的类型和数目以及典型安装条件的实际布置应当加以考虑，例如，最长电缆的可能长度。 3a?|}zr4
7．1．】注入法 EQ tY b"_
图：给出选择注入法的规则。 Kzx`
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按尽可能接近实际安装条件正确端接所选择的全部电缆。未列在本标准中的耦台和去耦网络，只要满足该标准的要求的也可以使用。 GExr] 2r
从受试设备引出的各种电缆彼此互相靠近，并且其接近部分长度大于10m，或从受试设备到另一没备是用电缆盘或管道走线时，则它们应作为一条电缆处理。 V r@tSc&
如果产品委员会决定某种耦合和去耦装置更适合于连接该系列产品的电缆，那么应优先选择这种装置（技术根据证明合适）。在产品标准中应阐明这些装置，在附录口中叙述了耦合和上耦网络的例子。 h=qT@)h1>
7．1．2试验点 $;&l{=e2)
为避免不需要的试验，应采用以下的指南。 G`;\"9t 5h
通常，试验通过受试设备的电缆只要有限的数目n（2≤n≤5）就足够了。应用最敏感的电缆配置进行试验。所有连接到受试设备的其他电缆，或者是断开（当功能允许时）或者是仅配置去耦网络。 ##%&*v
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7．2采用钳注入法的程序 ^i r)z@P?V
当用钳注入法时，辅助设备的配置应尽可能按6．2的要求呈现共模阻抗。用于钳注入法的每种辅助设备应尽可能代表运行的安装条件。 dVk(R9 8
为接近规定的共模阻抗，应按以下程序进行测量： oHr0;4Lg6
——用于钳注入法的每种辅助设备，应放在参考接地平面上0．1m高的绝缘支架上。 ?pc bso
——连接到辅助设备的全部电缆，除了连接到受试设备的那些外，均应配置去耦网络，见6·2·4。所采用的这些网络与辅助设备的距离应不大于0．3m。辅助设备与去耦网络或辅助设备与注入钳之间的电缆，不能盘起来，也不能绕成圈，井应与参考接地平面保持30mm～50mm的高度（见图6）。 <W>A }}q
——辅助设备和注入钳之间的电缆长度应尽可能地短（≤0．3m），以便改善高频段（＞30MHz）的重现性。当用电磁钳注入时，电缆长度是不大重要的，因为在10 MHz（A≤30m）以上频率共模阻抗主要是由电磁钳决定的。 o='A1 P
——在靠近受试设备的电缆上所安装的去耦网络，应由耦合／去耦网络取代，井在网络的输入端口端接50Ω电阻（见附录A，A7）。该网络代表辅助设备对参考接地平面的150Ω负载。辅助设备装有一（单独的）接地端子，在这种情况下，该接地端子应通过CDN-M1网络连接到参考接地平面上，并将耦合／去耦网络输入端口用50Ω电阻端接，同时对其他电缆应保留去耦网络。 F,A+O+
在所有其他情况下，应按下面7．3程序。 mE5{)<N:C
7。3当不满足共模阻抗要求时用钳注入法的程序 (~%NRH<\
当用钳注入且在辅助设备一侧不满足共模阻抗要求时，辅助设备的共模阻抗必须小于或等于受试设备的被测端口的共模阻抗，否则，应采取措施。例如，可在辅助设备端口用去耦电容器，以满足这一条件。在本程序中，仅给出与7．2有关差别。 Yku6\/^
——用钳注入的每种辅助设备和受试设备应尽可能接近实际安装条件。例如，将被测设备连接到参考接地平面上或者将其放在绝缘支架上（见图A6和图A7）。 E
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——用附加的电流探头（具有低插入损耗）插入注入钳和受试设备之间，并监视由感应电压产生的电流（调整按照6．4．1）。如果电流超过下面给出的短路电流值Imax，试验信号发生器电平应一直减小到测量电流等于于Imax值：Imax=U0/150Ω $ ,J }w%A
在试验报告中应记录施加的修正试验电压的电平值。 p^*a>d:d]
为保证重现性，在试验报告中应充分地叙述试验配置。 ]hS<"=oj
7．4单个单元构成的受试设备 e"wz b< b
受试设备应放在参考接地平面上0．1m高的绝缘支架上，对台式设备，参考接地平面可以放在一张桌子上（见图9）。 " acI:cl?,
在全部的被测电缆上，应插入耦合和去耦装置。耦合和去耦装置应放在参考接地平面上，在距受试设备约0.1m～0．3m处与参考接地平面直接接触。在耦合和去耦装置与受试设备之间的电缆应尽可能的短，不能盘也不能捆起来，它们在参考接地平面上方30 mm～50m。 2oEuqHL
如果受试设备装有其他接地端子，当允许时，它们应通过耦合和去耦网络连接到参考接地平面上，见6．2．2． 1（即耦合网络CDN-M1的辅助设备端口连接到参考接地平面上）。如果受试设备装有一个键盘或手提式附件，那么模拟手应放在该键盘上或缠绕在附件上，并且连接到参考接地平面上。 x?V^ l*
根据产品委员会的规范规定受试设备工作所要求的辅助设备，例如，通讯设备、调制解调器、打印机、传感器等，以及为保证任何数据传输和功能评价所必需的辅助设备，均应通过耦合和去耦装置连接到受试设备上。应根据代表性功能尽可能限制被测电缆的数目，详述见7．1。 _ hyqHvP
7，5多个单元构成的受试设备 zl6]N3+4
被相互连在一起的各单元组成的受试设备，应用下述方法之一进行测量（见图10）。 b9vud r
优先法：每个分单元（附件）应作为一个受试设备分别测量，见7．4，其他所有单元被视为是辅助设备。耦合和去耦装置应置于被认为是受试设备的分单元的电缆上（按7． 1），应依次测量全部分单元。 MymsDdQ]
代替法：总是由短电缆（即（1m）连在一起的并作为受试设备的一部分的分单元（附件），可认为是一个设备。对这些互连的电缆不进行传导抗扰度测量，而作为系统内部电缆考虑。 uP%VL}% 0
作为受试设备一部分的各分单元应尽可能相互靠近但不接触的放置，并全部放在参考接地平面上0·1m高的绝缘支架上，这些单元的互连电缆也应放在绝缘支架上。耦合和去耦装置应接入受试设备所有的其他电缆上，例如，接到电源和辅助设备的电缆上（见7．1）。
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8试验程序 { 22ey`@`h
受试设备应在指定的工作和气候条件下进行试验，温度和相对湿度应记录在试验报告中。 zA6C
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对于来自试验配置的辐射应遵守有关干扰法规。当辐射的能量超过允许的电平时，应在屏蔽室内进行试验。 zeQ~'ao<
注：通常，传导抗扰度试验可不在屏蔽室内进行。这是th＋fR采用骚扰电平和试验配置的JLnnR寸不可能辐射太高能量，尤其在低频频段。 jZqa+ nG51
依次将试验信号发生器连到每个耦合和去耦装置上，而其他不被激励的耦合装置的射频输入端口应端接nn电阻负载。 Lf ^
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为了防止（高次或次）谐波干扰受试设备，应使用滤波器。在试验信号发生器后面可能要求用100kHz高通滤波器（HPF）。低通滤波器（LPF）的阻带特性应能充分抑制谐波以便不影响测量结果。在调整测量电平之前，应在试验信号发生器的后面插入这些滤波器（见6．4． 1）。 faLfdUimJ
按试验程序设定的信号电平在150 kHz～80 MHz频率范围内扫频，骚扰信号为1kH，正弦波调幅，调制度为80％。如果需要，暂停试验井调整射频信号电平或切换耦合装置。扫描速率不能超过1·5／10-3’十倍频/S，当扫描频率增加时，步长不应超过开始频率的1％，此后，步进的大小不应超过前一频率值的1％。 ,Aq, f$5V
在每一频率上的驻留时间，不应少于受试设备所需的运行和响应时间。对于敏感频率，例如，时钟频率及其谐波或主要感兴趣的频率应分别进行分析。 ?^!J:D?
试验期间，应设法充分操作受试设备，并充分的审查抗扰度试验所选择的全部操作方式。 tQ; Fgv8Y!
推荐使用专门的操作程序。 l>`S<rGe
应按照试验计划进行试验，该计划应包括在试验报告中。
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