授权测试实验室名称 | 范围 | 费用 |
Electronic Regional Test Laboratory (North) 联络人: Sh. M.P.Sharma, Director 电话: 011-26386219 传真: 26387163 电子邮箱:ertln@ernet.in 地址:S-Block,Okhla Industrial Area, Phase-II 110020 | IS 13252:2010《信息技术设备-安全-通用要求》 注：授权生效日期从2013年1月14日至2014年6月14日。 测试范围不包括：可燃液体测试（Cl.4.3.12）、元器件测试（Cl.1.5）、安全联锁装置（Cl.2.8.5）、开关和继电器（Cl.2.8.7）、半导体器件（Cl.2.10.5.4）、紫外线（UV）对材料的影响（Cl.4.3.13.3）、人体暴露在紫外线（UV)辐射下（Cl.4.3.13.4）。 | Rs.60650(约合RMB 6065) |
Electronics Regional Test Laboratory (East) 联络人: Shri S. Chatterjee, Director 电话: 033-23673662/6 /7543 传真: 033-23679472/8974 电子邮箱:ertle@ertleast.org 地址: Block DN, Sector V, Salt Lake CITy Kolkata 700091 | IS 616:2010《音频、视频及类似电子设备-安全要求》 注：授权生效日期从2013年4月8日至2015年3月31日。 测试范围不包括：元器件测试（Cl.1.5）。 | Rs.54000(约合RMB 5400) |
Electronics Regional Test Laboratory (W) 联络人: Shri K. Murari, Director in-charge 电话:28236859/28301138 传真: 022-28225713 电子邮箱:ertlwest@stqc.nic.in 地址:Plot No. F 7&8, MIDC Area, Opp SEEPZAndheri (East) Mumbai 400093 | IS 13252:2010《信息技术设备-安全-通用要求》 注：授权生效日期从2013年1月9日至2014年9月14日。 测试范围不包括：可燃液体（Cl.4.3.12）、紫外线（UV）对材料的影响（Cl.4.3.13.3）、人体暴露在紫外线（UV)辐射下（Cl.4.3.13.4）、其他类型Cl.4.3.13.6）、元器件测试（Cl.1.5）、运动部件（Cl.2.8.5）、开关和继电器（Cl.2.8.7）、过载测试（Cl.2.8.7.2）、耐久性测试（Cl.2.8.7.3）、半导体器件（Cl.2.10.5.4）、绕组组件中的绝缘（Cl.2.10.5.11）、绕组组件中的绕组线（Cl.2.10.5.12）、组组件中的带有溶剂型漆的绕组线（Cl.2.10.5.13）、绕组组件中另加的绝缘（Cl.2.10.5.14）、涂覆印制板及涂覆元器件的试验（Cl.2.10.8＆Cl.2.10.8.1）、热处理（Cl.2.10.8.2）、耐磨测试（Cl.2.10.8.4）、热循环（Cl.2.10.9）、对污染等级1的环境和绝缘化合物的试验（Cl.2.10.10）、半导体器件和粘合的接缝的试验（Cl.2.10.11）、封装的和密封的零部件（Cl.2.10.12）、器具插座（Cl.3.2.4）、电源软线（Cl.3.2.5,Cl.3.2.5.1,Cl.3.2.5.2）、阴极射线管（Cl.4.2.8）、电池（Cl.4.3.8）、防火防护外壳的条件（Cl.4.7.2,Cl.4.7.2.1,Cl.4.7.2.2）、 材料（Cl.4.7.3,Cl.4.7.3.1,Cl.4.7.3.2, Cl.4.7.3.3,Cl.4.7.3.5,Cl.4.7.3.4,Cl.4.7.3.6）、电动机（Cl.5.3.2）、变压器（Cl.5.3.3）、机电组件（Cl.5.3.5）、模拟故障（Cl.5.3.7）、无人值守的设备（Cl.5.3.8）。 | Rs.54000(约合RMB 5400) 注：为BIS认证进行该项测试优惠10% |
Electronics Test & Development Centre 联络人: Sri S.R.Vijaya Kumar, Head QA & CSG 电话: 080-28395371 传真: 080-28391804 电子邮件:vijaykumar@etdc.nic.in 地址:100 Feet Road, Ring Road, Peenya Industrial Estate Bangalore 560058 | IS 13252:2010《信息技术设备-安全-通用要求》 注：授权生效日期从2013年1月10日至2014年10月14日。 测试范围不包括：可燃液体测试（Cl.4.3.12）、元器件测试（Cl.1.5）、开关和继器（Cl.2.8.7）、半导体器件（Cl.2.10.5.4）、PCB的结构（Cl.2.10.6）、组件的外部接线端子（Cl.2.10.7）、CRT阴极射线管的机械强度（Cl.4.2.8）、高压灯（Cl.4.2.9）、电池（Cl.4.3.8）、运动部件（Cl.2.8.5）、绕组组件中的绝缘（Cl.2.10.5.11）、绕组组件中的绕组线（Cl.2.10.5.12）、组组件中的带有溶剂型漆的绕组线（Cl.2.10.5.13）、绕组组件中另加的绝缘（Cl.2.10.5.14）、异常工作和故障条件（Cl.5.3.2,5.3.3,5.3.5,5.3.7,5.3.8）、涂覆印制板及涂覆元器件的试验（Cl.2.10.8、2.10.8.1、2.10.8.2）。 以下测试将分包给班加罗尔的M / s TUV Theinland：紫外线辐射的测试（Cl.4.3.13.3、Cl.4.3.13.4 Cl.4.3.13.6）；分包给新德里M/s ERTL(N)：非分离薄层材料试验（Cl.2.10.5.8）。 | Rs.54000(约合RMB 5400) |
UL India Pvt Ltd 联络人: Mr. V. Ravichander, Head-Quality 电话: 080-41384400, (64454 传真: 080-25204407 电子邮件:Ravichander.V@ul.com,Bharani. 地址:Kalyani Platina Campus, Sy.No.129/4 EPIP Zone, Phase-II, Whitefield Bangalore 560066 | IS 13252:2010《信息技术设备-安全-通用要求》 注：授权生效日期从2013年1月11日至2015年5月12日。 测试范围不包括：灰屑、粉末、液体和气体（Cl.4.3.10）、可燃液体（Cl.4.3.12）、电离辐射影响（Cl.4.3.13.2）、紫外线（UV）对材料的影响（Cl.4.3.13.3）、人体暴露在紫外线（UV)辐射下（Cl.4.3.13.4）、灼热燃油试验（Cl.4.6.2＆A-3）、元器件（Cl.1.5）、电源软线（C3.2.5.1、 Cl.3.2.5）、阴极射线管（Cl.4.2.8）。 | Rs.59000(约合RMB 5900) |
TUV Rheinland (India) Pvt. Ltd. 联络人:Sh.G.Kalyan Verma, General 电话: 080-30554300 地址:#82/A, West Wing, 3rd Main Road, Electronic City Phase-1, Bangalore 560100 传真:080-30554342 电子邮件:vkalyan@ind.tuv.com | IS 13252:2010《信息技术设备-安全-通用要求》 注：授权生效日期从2013年4月8日至2016年2月17日。 测试范围不包括：元器件测试（Cl.1.5）、浪涌抑制器（Cl.1.5）、AC电源软线（Cl.3.2.5.1）、软线（Cl.2.6.3.3）、安全联锁装置（Cl.2.8.5）、开关和继电器（Cl.2.8.7）、绝缘材料（Cl.2.9.1）、绝缘导体（Cl.3.1.4）、阴极射线管（Cl.4.2.8）。 以下测试将分包给班加罗尔ETDC：电离辐射（Cl.4.3.13.2）和电压浪涌测试（Cl.7.4.2）；分包给金奈CIPET：紫外线（UV）对材料的影响（Cl.4.3.13.3）。 | Rs.160000(约合RMB 16000) |
Intertek India Pvt. Ltd. 联络人: Mr. Rakesh Chaurasia, Operations Manager 电话: 011-41595469, 77 传真: 011-41595475 电子邮件:rakesh.chaurasia@intertek.com 地址E-20, B-1 Mohan Co-operative Industrial Estate, Mathura Road New Delhi 110044 | IS 13252:2010《信息技术设备-安全-通用要求》 注：授权生效日期从2013年3月4日至2013年10月27日。 测试范围不包括：元器件（Cl.1.5）、开关和继电器（Cl.2.8.7）、接点间隙（Cl.2.8.7.1）、过载试验（Cl.2.8.7.2）、耐久性测试（Cl.2.8.7.3）、不可分薄层（Cl.2.10.5.8 和AnnexAA）、组件的外部接线端子（Cl.2.10.7）、涂覆印制板及涂覆元器件的试验（Cl.2.10.8）、阴极射线管（Cl.4.2.8）、电池（Cl.4.3.8）可燃液体（Cl.4.3.12）、紫外线（UV）对材料的影响（Cl.4.3.13.3）、人体暴露在紫外线（UV)辐射下（Cl.4.3.13.4）、其他类型（Cl.Cl.4.3.13.6）、灼热燃油试验（Cl.4.6.2＆A-3）、运动部件（Cl.2.8.5）。 以下测试将分包给新德里M / sERTL（N）：瞬态电压测量（Cl.2.10.3.9）、电离辐射（Cl.4.3.13.2）、材料（Cl.4.7.3）、脉冲试验（Cl.6.2.2.1＆CL.7.4.3节）、电压的浪涌测试（Cl.7.4.2），且范围限制在Cl.4.3.13.5测试内的1型激光系统产品。 | Rs.89000(约合RMB 8900) |
Conformity Testing Labs Pvt. Ltd. 联络人: Shri Sudhir Kumar Sharan 电话:9811127453 传真: 011-28114400 电子邮件:E-mail testing@ciindia.in 地址:WH-52 Mayapuri Industrial Area, Phase-I New Delhi 110064 | IS 13252:2010《信息技术设备-安全-通用要求》 注：授权生效日期从2013年3月15日至2016年3月14日。 测试范围不包括：元器件（Cl.1.5）、开关和继电器（Cl.2.8.7.3）、热循环（Cl.2.10.9）、紫外线（UV）对材料的影响（Cl.4.3.13.3）。 以下测试将被分包给新德里ERTL（N）：电网电源瞬态电压（Cl.2.10.3.2）、机械强度试验CRT（Cl.4.2.8）、电离辐射（Cl.4.3.13.2）、脉冲测试（Cl.6.2.2 Cl.7.4.3）、电压冲击测试（Cl.7.4.2）；分包给班加罗尔M /S TUV（印度）：人体暴露在紫外线（UV)辐射下（Cl.4.3.13.4），且范围限制在1类型产品。 | Rs.75000(约合RMB 7500) |
Bharat Test House Pvt Ltd 联络人 : Shri Rajeev Gupta, CMD 电话9810314585 传真: 0130-2367675 电子邮件 bthrai@bharattesthouse.com 地址781, HSIIDC Industrial Estate Rai Sonepat 131001 | IS 13252:2010《信息技术设备-安全-通用要求》 注：授权生效日期从2013年5月21日至2016年5月20日。 测试范围不包括：电源软线（Cl.3.2.5.1、Cl.3.2.5.2）、阴极射线管（Cl.4.2.8）、电池（Cl.4.3.8）、可燃液体（Cl.4.3.12）、紫外线的辐射影响（Cl.4.3.13.3、4.3.13.4）、无人值守的设备（Cl.5.3.8） | Rs.52500(约合RMB 5250) 注：为BIS认证进行该项测试优惠10% |
文章出自: 世科网
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