在钢铁工业迅猛发展和
电子元器件性能日益提高的大环境下,含
氧化锆的耐火
材料愈来愈多的得到应用,其中冶金行业的使用量最大,在电子行业的使用最具特点。目前国内这类耐火材料对氧化锆的要求集中在ZrO2-CaO,ZrO2-MgO,ZrO2- Y2 O3三个系列。对于这类耐火材料的
化学检测多采用的是化学湿法
分析,但湿法分析过程复杂、分析周期长、分析
标准不统一。为了适应耐火材料工业的发展和进一步提高耐火材料
产品质量,提高检测速度,有必要探索采用X射线荧光光谱测定氧化锆质耐火材料的
分析方法。我院采用X射线荧光分析仪和玻璃熔片法,用光谱纯氧化锆通过固相研磨法配置标样,建立了部分稳定氧化锆中Zr、Ca、Al、Si、Fe、Mg、Ti等的检测线。采用硼盐酸和碳酸盐熔融的制样
方法制成样片,消除了粒度和矿物效应影响,选择有证参考物质和自制标准样品绘制校准曲线,建立了X射线荧光光谱法测定氧化锆质耐火材料中主次成分的分析方法,该法精密度和准确度完全可以满足
生产分析的需要。
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